Для повышения заинтересованности и привлечения талантливой молодежи к исследованиям и разработкам с использованием методов машинного обучения при работе на источниках синхротронного излучения в МИИ ИМ ЮФУ проводит мастер-классы по применению методов машинного обучения для анализа данных operando диагностики в режиме реального времени.
На мастер-классах, которые будут проходить в Центре наукоемкого приборостроения ЮФУ в период с 27 по 28 октября, будет проводиться интенсивный практикум по машинному обучению для работы с большими данными установок Мега-класса.
Участники будут решать реальные задачи: от использования больших языковых моделей (LLM) до PCA-анализа и кластеризации спектров. Для максимальной эффективности каждому слушателю будет предоставлена готовая среда Jupyter Notebook с данными и скриптами.
Это шанс получить практический опыт под руководством экспертов!
Зарегистрироваться на мастер-классы можно, начиная с 20.09 2025 на сайте МИИ ИМ ЮФУ https://nano.sfedu.ru/
Мероприятие проводится при поддержке Минобрнауки в рамках реализации проекта «Разработка инфраструктуры для умных станций operando диагностики на источниках СИ и внедрение на МУР КИСИ» по Соглашению № 075-15-2025-509 от 30.05.2025 г.
Автор текста: Елена Варламова, ред. Ольга Молоткова
Краткая ссылка на новость sfedu.ru/news/78446
